「LabVIEW」を使用した半導体テストプログラムの手引き・DC計測編 中堅エンジニア向けに、ものづくりの現場で役立つプログラミングの実践書をお届けします。 今回は、半導体のオープンショート・リークテストを行うプログラムの作り方です。 半導体メーカーのエンジニアを悩ませる、検査速度と検査精度。 装置メーカーと検査速度・検査精度についてもっと突っ込んだ議論を行いたい！自分たちでカスタマイズしたい！という方へお奨めです。 このテキストでは、現場でも採用されている計測器と本物のフォトカプラをつかって、DCテストプログラムをつくる方法をお伝えします。 半導体に関わる方は要チェックです！ ダウンロード内容 ・テキスト（.pdf） ・解説スライド（.pdf） ・解説動画（.mp4） ・プログラム（.vi） ※領収書は発行いたしかねますので、法人取引や見積書、納品請求書をご希望のお客様は本ストアで購入せずに下記リンク先より当社に直接お問い合わせください。 https://peritec-si.com/contact/